視覺檢測方案
VISUAL INSPECTION SOLUTION
SN-VR-C12系列
【概要描述】<h1>應用于晶片、電感、晶振、芯片等產品</h1>
<span>檢測項目:暗裂、崩缺、臟污、缺角、水印、變形、外形(長寬高)等缺陷</span>
【概要描述】
<h1>應用于晶片、電感、晶振、芯片等產品</h1>
<span>檢測項目:暗裂、崩缺、臟污、缺角、水印、變形、外形(長寬高)等缺陷</span>
詳情
SN-VR-C12系列
應用于晶片、電感、晶振、芯片等產品
檢測項目:暗裂、崩缺、臟污、缺角、水印、變形、外形(長寬高)等缺陷
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SN-VR-C18系列
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SN-VR-CT2系列

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